電子顕微鏡
透過電子顕微鏡
| 型式 (メーカー) |
JEM-1400Flash（JEOL(日本電子㈱)） |
| 特徴・仕様 など |
概要・特徴 光学顕微鏡で観察できない小さな試料の断面の観察に用いる装置。 厚さ100nm以下の超薄切片に電子線を照射して、超薄切片を透過する電子を結像させることにより、試料の微細構造を観察できる。 ＜仕様＞ TEM分解能：0.2nm、加速電圧：10～120ｋV、倍率：×10～1,200,000、最大試料傾斜角(Tilt-X)、排気系：TMP・JEOL製sCMOSカメラ搭載、超広視野モンタージュシステム Limitless Panorama（LLP）搭載、光学顕微鏡画像リンク機能 Picture Overlay 搭載 など |
| 設置場所 | 生体画像解析室解析室（大学1号館115号室 電子顕微鏡室） |
| 備考 | ・教員の監督の下でも、学部生は原則的に見学のみとします。 ・本機器を利用する際は、必ず初回に、担当者の取扱説明を受けてからご利用ください。 ・本機器を利用する際は、必ず機器予約システムにて予約をお願いいたします。 ・ご利用の際は必ず機器に備え付けの利用簿へご記入をお願いいたします。 |
| 機器担当者 内線番号 |
井手（生体画像解析室） 2645 |
| 利用料 | - |
機器写真
走査電子顕微鏡
| 型式 (メーカー) |
JSM-7610FPlus（JEOL(日本電子㈱)） |
| 特徴・仕様 など |
概要・特徴 光学顕微鏡で観察できない小さな物の表面の観察に用いる装置。 電界放出形電子銃から照射された電子線を試料に当てた時、試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成を観察できる。 ＜仕様＞ 分解能：0.8 nm（加速電圧15 kV）,1.0 nm（加速電圧1 kV GBモード）,0.8 nm（加速電圧1 kV GBSHモード）,分析時 3.0 nm（加速電圧15 kV、 WD8 mm、 照射電流5 nA）、加速電圧：0.1 ～ 30kV、倍率：写真倍率：×25～1,000,000（120mm×90mm表示時）,表示倍率：×75～3,000,000（1,280×960画素表示時）、電子銃:インレンズショットキー電界放出形電子銃、レンズ系：コンデンサレンズ（CL）開き角最適化レンズ（ACL）、セミインレンズ形対物レンズ（OL）試料ステージ：フルユーセントリックゴニオメーターステージ、5軸モーター駆動、排気系：電子銃室／中間室 イオンポンプによる超高真空ドライ排気系、試料室 ドライ排気系TMP排気システムなど |
| 設置場所 | 生体画像解析室解析室（大学1号館115号室 電子顕微鏡室） |
| 備考 | ・教員の監督の下でも、学部生は原則的に見学のみとします。 ・本機器を利用する際は、必ず初回に、担当者の取扱説明を受けてからご利用ください。 ・本機器を利用する際は、必ず機器予約システムにて予約をお願いいたします。 ・ご利用の際は必ず機器に備え付けの利用簿へご記入をお願いいたします。 |
| 機器担当者 内線番号 |
井手（生体画像解析室） 2645 |
| 利用料 | ー |
機器写真
走査電子顕微鏡
| 型式 (メーカー) |
HITACHI S-2600（HITACHI） |
| 特徴・仕様 など |
概要・特徴 光学顕微鏡で観察できない小さな物の表面の観察に用いる装置。 タングステンフィラメント電子銃から照射された電子線を試料に当てた時、試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成を観察できる。 ＜仕様＞ 分解能：二次電子像分解能 4 nm(高真空モード),反射電子像分解能 5 nm(低真空モード)、加速電圧：0.5～30ｋV,0.5～5ｋV,5～30ｋV、倍率：×15～300,000 など |
| 設置場所 | 生体画像解析室解析室（大学1号館115号室 電子顕微鏡室） |
| 備考 | ・本機器を利用する際は、必ず初回に、担当者の取扱説明を受けてからご利用ください。 ・本機器を利用する際は、必ず機器予約システムにて予約をお願いいたします。 ・ご利用の際は必ず機器に備え付けの利用簿へご記入をお願いいたします。 |
| 機器担当者 内線番号 |
井手（生体画像解析室） 2645 |
| 利用料 | ー |
機器写真
